XRF如何工作 - X射線熒光光譜

　　X射線熒光（XRF）是用于確定各種材料中元素濃度的非破壞性分析方法。

　　XRF通過用來自X射線管的X射線束照射樣品來工作，導(dǎo)致特征X射線從樣品中的每個元素發(fā)出熒光。 檢測器測量每個X射線的能量和強度（以特定能量每秒的x射線數(shù)），其使用諸如基本參數(shù)或用戶生成的校準(zhǔn)曲線之類的非標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)轉(zhuǎn)換成元素濃度。

　　元素的存在通過元件的特征X射線發(fā)射波長或能量來識別。 通過測量該元件的特征X射線發(fā)射的強度來量化存在的元素的量。

　　原子級

　　原子 - 堿性配置ONE - 所有原子具有固定數(shù)量的電子。這些電子排列在核周圍的軌道上。能量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個電子軌道K，L和M線的活動。

　　原子 - 基本配置顯示殼 - 這些電子排列在核周圍的軌道上。能量分散XRF（EDXRF）通常捕獲前三個電子軌道K，L和M線的活動。